Home
Prodotti »
Strumenti di Ottica Elettronica
»
Microscopi Elettronici a Scansione (SEM)
»
Microscopi Elettronici a Trasmissione (TEM)
»
FIB e Dual Beam
»
Analisi Superficiale (Auger, Microsonde EPMA)
»
EDS SDD per SEM e TEM JEOL
Preparazione dei Campioni
»
Plasma Cleaner
»
Ion Slicer
»
Cross Section Polisher (CP)
»
Metallizzatori
Strumenti per Semiconduttori
»
Litografia con Fascio Elettronico
»
Ispezione di wafer madiante SEM
»
Ispezione di Processi di Precisione
Strumentazione Analitica
»
Spettrometri di Massa
»
Risonanza Magnetica Nucleare (NMR)
Ottimizzazione dell' Ambiente
»
Controllo della Temperatura
»
Compensatori di Campi Magnetici
»
Dispositivi anti-vibrazioni
Spettrometria a raggi X
»
SXES
»
Fluorescenza a raggi X
Novità
Assistenza / Jobs
Contatti
Applications
Login
Novità
INFO
EVENTI
PUBBLICAZIONI
Current Articles
|
Archives
|
Search
01
JEOL NMR webinars (secondo ciclo)
01
JEOL webinar series on NMR
08
INFORMAZIONI COVID-19
25
Nuovo TEM JEOL JEM-1400Flash al Dipartimento di Neuroscienze dell'Università di Torino
05
Presentata la nuova Microsonda EPMA JXA-iHP200F e JXA-iSP100
08
La maggiore risoluzione in CRYO-EM ottenuta con CRYO ARM 300
03
Un nuovo canale di comunicazione multimediale per la divisione NMR di JEOL
30
JEOL A EUROMAR 2017
30
JEOL EUROPE su Linkedin
02
JIB-4700F: new dual-beam from JEOL
Pagina 1 di 4
Primo
Precedente
[1]
2
3
4
Prossimo
Ultima