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JEOL ha il piacere di presentarvi il nuovo microscopio elettronico a scansione JSM-7610F.

Il JSM-7610F va ad ampliare la gamma di microscopi elettronici a scansione con sorgente ad emissione di campo. Il JSM-7610F rappresenta un incredibile compromesso tra la possibilità di coprire molteplici campi di applicazione ed una semplicità di utilizzo senza eguali.

Questo nuovo SEM beneficia, come il resto dei della gamma JEOL, della garanzia di 3 anni sulla sorgente Schottky e di un range di corrente generabile che va da 1pA a 300nA, rendendolo così particolarmente performante dal punto di vista analitico.

Il nuovo JSM-7610F vi permetterà di ottenere immagini topografiche relative alla superficie del vostro campione utilizzando una tensione d'accelerazione che parte da soli 100 volts, mantenendo però anche la possibilità di ottenere informazioni composizionali a tensioni più elevate. Ciò è stato reso possibile grazie all'introduzione della nostra nuova generazione di rivelatori Low Angle Backscattered Electron (LABE)

 

Immagini LABE di un semiconduttore con a sinistra un'informazione composizionale ottenuta a 15kV e a destra un'informazione topografica ottenuta a 0,1kV

Il nuovo JSM-7610F permette di analizzare i vostri campioni in un modo completamente nuovo grazie al controllo dell'energia degli elettroni incidenti reso possibile dal nuovo r-filter. In aggiunta è anche possibile passare dalle immagini in elettroni secondari alle immagini in elettroni retrodiffusi con un solo click e quindi rivelare sia la composizione che la topografia utilizzando un singolo rivelatore!

I campioni più delicati o non conduttivi saranno facilmente osservati in modalità Gentle Beamcon il rivelatore nella colonna: Upper Electron Convertor.

Il JSM-7610F non è solamente uno strumento formidabile per l'immaging, ma può essere equipaggiato anche con una microanalisi EDS JEOL per avere una soluzione completa ed integrata. Infatti la tecnologia JEOL Gun In-Condenser lens consente di ottenere fino a 200nA a 15kV o anche 50nA a 5 kV, caratteristica che in combinazione con una particolare soluzione tecnologica brevettata da JEOL rendeil il JSM-7610F ideale per imaging e microanalisi X-Ray.