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JEOL Ltd. (Presidente Gon-emon Kurihara) annuncia il lancio di una innovativa classe di Microscopi Elettronici a Trasmissione: i TEM 20-200 kV senza correttori, multifunzioni, con sorgente ad emissione di campo a catodo freddo.

 

Così come le richieste e le esigenze del mondo scientifico crescono incessantemente, JEOL continua a sviluppare i suoi strumenti per rispondere al meglio a tali necessità. Grazie alla sua esperienza sullo sviluppo del catodo freddo per la gamma di microscopi a risoluzione atomica JEM-ARM, JEOL ha deciso di proporre un nuovo TEM, senza correttori, che integra il famoso catodo freddo.

 

In effetti il catodo freddo è l'unica sorgente di elettroni che permette di combinare una dimensione assai piccola del fascio elettronico con una notevole brillanza ed una minima dispersione in energia, il tutto senza compromessi.

L' F2 consente di integrare una grande varietà di periferiche: camere (CCD, CMOS, direct detection, …), EDS con un ampio angolo solido, EELS, precession, portacampioni in-situ (cryo, heating, liquido, …)

La recente 21ma conferenza sul clima ha sottolineato la necessità di ridurre l'emissione di biossido di carbonio. JEOL contribuisce a ciò grazie ad un consumo fino a 5 volte inferiore rispetto ad un TEM con sorgente di tipo Schottky.


Principali caratteristiche:

 

1-CATODO FREDDO (Improved Cold FEG)

L' F2 è equipaggiato con la nuova generazione di sorgenti a catodo freddo (Flash & Go) sviluppato su ARM. Tale sorgente produce una brillanza, una dimensione di fascio, una dispersione energetica ed una durata decisamente superiore a quella di una sorgente di tipo Schottky.


2-DUAL EDS (1,7 srd)

Questo angolo solido è pari al doppio di quello garantito al momento sui TEM senza correttore. Ciò consente di lavorare con correnti molto basse, su campioni sensibili, permette di ottenere mappature elementari in pochi secondi, anche lavorando su elementi leggeri.

 

3-Smart design
F2 ha un design nuovo ed accattivante. Lo strumento integra una nuova ed intuitiva interfaccia grafica specificamente sviluppata per microscopi elettronici analitici. Migliorata è anche la stabilità elettrica e meccanica dell'F2, necessarie per ottenere alta risoluzione con un catodo freddo.

Inoltre, un notevole sforzo è stato effettuato sulla ergonomia per rendere questo TEM il più accessibile possibile.

4-Quattro lenti condensatrici
Queste quattro lenti permettono con una grande flessibilità di gestire l'angolo di convergenza e la dimensione del fascio.Ces 4 lentilles permettent avec une grande souplesse de gérer l’angle de convergence et la taille de la sonde. Totale libertà viene lasciata agli utilizzatori per realizzare immagini TEM/STEM, in campo chiaro o scuro senza precedenti.

 

5-Sistema Avanzato di Scansione (opzionale)
L' F2 incorpora un nuovo sistema di scansione capace di generare immagini STEM in alta qualità. Allo stesso modo tale sistema consente di realizzare analisi STEM/EELS in modalità basso ingrandimento.

 

6-Pico Stage Drive

L' F2 sfrutta uno stage che può essere movimentato con steps pico-metrici. Questo stage grazie ad una velocità di movimento controllata è capace di muoversi rapidamente a bassi ingrandimenti e più finemente ad altissimi ingrandimenti, per un facile e preciso spostamento in tutte le circostanze.

 

7-SPECPORTER (inserimento automatico del portacampione)

L'inserimento/rimozione del portacampione viene fatta automaticamente, eliminando il rischio d'entrata dell'aria e dunque un eventuale danneggiamento del microscopio. L'angoscia dell'inserimento e della rimozione appartiene ormai al passato.

 

8-ECO Mode

L'F2 incorpora un dispositivo ECO che consente di minimizzare le sue emissioni di CO2 e di ridurre il consumo energetico fino a 5 volte rispetto ad un normale TEM. Tale funzione può anche essere programmata.

 

9-Caratteristiche principali

 

Risoluzione*

TEM point / point: 0.19 nm
STEM-HAADF: 0.14 nm

Sorgente elettronica

Cold FEG

Tension d’accelerazione

20-200 kV