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Era il 1966 quando JEOL produsse il primo SEM: il JSM-1. Da quel momento JEOL ha installato oltre 22.000 SEM in tutto il mondo. Negli ultimi cinquant'anni, JEOL ha costantemente migliorato sia la risoluzione che le performance analitiche dei suoi SEM. Molteplici innovazioni sono state introdotto nei SEM JEOL al fine di migliorarne le prestazioni: Schottky FEG, In-lens technology, Low vacuum, beam deceleration…

Dal più performante Field Emission SEM, con 0,7 nm (a 1 kV) di risoluzione e 1,000,000X di ingrandimento al nostro SEM da banco, JEOL è in grado di proporre un ampia gamma di SEM per soddisfare tutte le richieste. Scoprite le ultime tecnologie SEM derivanti da oltre 50 anni di esperienza nel campo della microscopia elettronica.

Celebrate questo importante traguardo insieme a noi.


 

 

1966 - JSM-1                                                                                  2016 - JSM-7800F PRIME

Risoluzione: 25nm, Ingrandimenti: 30.000x                                             Risoluzione: 0.7nm, Ingrandimenti: 1.000.000x