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Unitevi a noi durante il 16mo EMC (28 Agosto-2 Settembre)  presso il Centro Congressi di Lione, stand JEOL n° 37. 
Sarete in grado di scoprire i nostri nuovi strumenti e discutere con i nostri specialisti in una atmosfera accogliente.

ATTREZZATURA DA SCOPRIRE:

JEM-1400Plus
F2
JSM-7800F Prime

Questo TEM compatto e dalle alte performance è semplice da utilizzare. E' uno strumento versatile che permette di eseguire analisi chimiche, in cryo-microscopia e analisi in tmografia.


Il F2 rappresenta un nuovo concetto di Microscopio Elettronico a Trasmissione 20-200kV equipaggiato con un catodo freddo (Cold FEG). Questa nuova generazione di TEM è destinato a rispondere alle diverse necessità presenti e future.


Il SEM-FEG per qualsiasi tipo di campione ed analisi. Performance analitiche e risoluzione sub-nanometrica senza compromessi.







JSM-7200F
JSM-IT100
PRIMA MONDIALE ASSOLUTA

Il nuovo SEM-FEG JSM-7200F è uno strumento versatile e grazie alle funzioni automatizzate ed all'interfaccia grafica user friendly è accessibile anche agli utenti meno esperti.



Il JSM-IT100 è un SEM ultra compatto dal rapporto qualità-prezzo senza eguali. Grazie alle funzioni automatizzate potete accedere alle risoluzioni dei migliori SEM tungsteno JEOL con la semplicità di un SEM da banco!


Venite e vedrete........


F2



Lunch Workshops :

JEOL organizzerà durante EMC dei lunch workshops al fine di farvi scoprire più in dettaglio le ultime novità.

I lunch workshops saranno Martedì 30 Agosto e Giovedì 1 Settembre nel Salon Tête d'Or dalle 12.45 alle 13.45.

Il numero di posti è limitato per cui è richiesta la registrazione allo stand JEOL (#37)

I titoli dei lunch workshop saranno:

- “Introduction of Cryo Transmission Microscope"    <by Dr. Naoki HOSOGI>

- "Latest information of JEOL-ARM microscopes for material science Vol.1" <by Dr. Eiji OKUNISHI>

- "Breakthrough in performance & Maximum usability! Introduction of the newest all-purpose SEM" < by Franck CHARLES>


Vi aspettiamo allo stand JEOL