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JEOL Ltd. (Presidente Gon-emon Kurihara) annuncia ufficialmente il rilascio sul mercato del JXA-8530FPlus Electron Probe Microanalyzer (EPMA) equipaggata con sorgente In-Lens Schottky Plus FEG (field emission gun).

Product development background

JEOL commercializò la prima EPMA con sorgente FEG (prima al mondo), JXA-8500F nel 2003. Questa FE-EPMA è stata utilizzata in diversi campi di applicazione, come: metalli, scienze dei materiali, geologia sia nell'industria che nel mondo accademico.
Il JXA-8530FPlus è la terza generazione di FE-EPMA con aumentate capacità analitiche e di imaging grazie all'innovativo sistema elettro-ottico. Il In-Lens Schottky FEG in combinazione con il nuovo software di controllo permette di ottenere un elevato throughput. Questa nuova FE-EPMA è inoltre dotata di una camera che offre la possibilità di espansione future. Grazie all'integrazione di varie funzioni, il JXA-8530FPlus soddisfa qualsiasi esigenza degli utenti mantenendo una stabilità senza eguali.

Main Features

 

1. In-lens Schottky Plus FEG EPMA version.

2. Advanced software
Flexible WDS configuration

3. Combined WDS/EDS system

4. Multipurpose chamber

5. Powerful clean vacuum system.

6. Soft X-ray Emission Spectrometer (SXES).

7. miXcroscopy(Correlative microscope)



 

A basse tensioni di accelerazione (5-7kV) con WDS (wavelength dispersive X-ray spectrometer),  elevata corrente di fascio, piccolo spot, il JXA-8530F è in grado di eseguire analisi elementari di regioni sub-micron (circa 100nm)

Questa nuova microsonda: 1) Trace Element Analysis Program per ottimizzare le analisi di analisi di elementi presenti in tracce, 2) Phase Map Maker per la creazione automatica di mappe di fase basate sui componenti principali, 3) Non-Flat Surface Analysis Program per analisi WDS automatizzata di campioni con superficie irregolare, 4) Molte altre novità di sicuro interesse.