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JEOL Ltd. (President & COO Izumi Oi) announces the release of a new Schottky field emission Electron Probe Microanalyzer JXA-iHP200F and a new tungsten/LaB6 Electron Probe Microanalyzer JXA-iSP100.

Grazie alla sua nuova interfaccia software, il perfetto workflow integrato di analisi EDS, WDS ed imaging ottico e il nuovo sistema di caricamento del campione questo nuovo strumento rappresenta un game-changer nella storia delle microsonde elettroniche.

Guarda il video di presentazione della nuova microsonda elettronica JEOL.