JEOL produce strumentazione di alta precisione, sviluppata per preparare in modo ottimale i campioni per l'analisi SEM, TEM o con Microsonde.
Da sistemi FIB per campioni nanometrici a cross section polisher per superfici più ampie, noi offriamo una selezione di strumenti specifici per le vostre esigenze, così da permettere una preparazione semplice, rapida e precisa, del campione, qualsiasi natura esso abbia (semi-conduttori, metalli, ceramiche, polimeri, materiali compositi...).

Per la metallizzazione di campioni non conduttivi (ad esempio per analisi EDS quantitative), JEOL propone un evaporatore a grafite (o qualsiasi altro tipo di metallo) operante in ultra alto vuoto. Questo vuoto ottimale permette di evaporare sul campione strati molto sottili che rimangono invisibili anche ad elevati ingrandimenti.

Per la preparazione di lamelle per l'analisi TEM, EBSD 3D etc. JEOL propone sia sistemi da banco come l' Ion Slicer, che sistemi più completi capaci di permettere anche l'osservazione simultanea del campione. Tali sistemi sono consultabili nella sezione FIB e Dual Beam.