Ion Slicer

Preparazione dei Campioni

Strumento per la preparazione dei campioni a basso angolo di fascio.

EM-09100IS Ion Slicer™
EM-09100IS Ion Slicer™EM-09100IS Ion Slicer™

L’ Ion Slicer permette di preparare campioni sottili senza l' impiego di solventi o prodotti chimici e richiede solamente un semplice taglio rettangolare (senza disco di taglio o « dimple grinding »).

L' Ion Slicer permette di realizzare campioni sottili in modo più veloce e più facile rispetto agli strumenti convenzionali per la preparazione del campione. Un fascio di ioni ad Argon a bassa energia e basso angolo irradia il campione. Un sottile cintura metallica agisce come una maschera e permette un basso angolo d' irradiazione al fascio ionico (da 0 ° a 6 °). Questa configurazione consente di ridurre in modo significaivo il danno di radiazione del fascio ionico sul campione ed evitare l' erosione selettiva. Si ottiene così una lama sottile con pochi artefatti legati all' abrasione, anche nei materiali più morbidi. L' Ion Slicer permette di preparare efficacemente sezioni sottili di campioni composti da materiali compresi i campioni compositi porosi.

Tensione d'accelerazione
1 a 8 kV
Angolo del fascio
fino a  ±6° (step da 0.1°)
Diametro del fascio
500µm (FWHM)
Velocità di taglio
5µm/min (8 kV, silicium)
Gas
Argon
Dimensione del campione
2.8mm (lung.) x 0.5 mm (larg.) x 0.1mm (spessore)
Misura della pressione
Gauge Penning
Camera CCD interna
Dimensioni e peso
IS 500mm (L) x 600mm (l) x 547mm (H), 63kg
pompe primaria 150mm (W) x 427mm (D) x 230.5mm (H), 16kg
LCD 326mm (L) x 173mm (l) x 380mm (H), 3.7kg