Analisi di Superficie (Auger, microsonde EPMA)

La nostra divisione di analisi di superficie propone due diverse famiglie di strumenti:
Nano sonde Auger, Microsonde (EPMA).

GAMMA STRUMENTI JEOL

Nano-sonda Auger
Nano-sonde Auger

Nano-sonde Auger con sorgente ad emissione di
campo, Schottky In-Lens.

Electron Probe Micro Analyser
Electron Probe Micro

JXA-8230 Superprobe: Microsonda con sorgente
a filamento di Tungsteno (W) o LaB6 (EPMA).
JXA-8530F Hyperprobe: Microsonda con sorgente
ad emissione di campo (EPMA).

La nanosonda Auger JAMP-9500F è dotata di una eccellente risoluzione laterale. Questo strumento permette di determinare la distribuzione e la natura chimica degli elementi presenti negli strati più superficiali (qualche nanometro). Il fenomeno "Auger" è stato scoperto dallo scienziato francese P. Auger.

La microsonda (EPMA) disperde i fotoni X utilizzando un cristallo mobile montato su uno spettrometro. Le analisi qualitative e quantitative ottenibili con questo strumento forniscono informazioni sulla natura chimica dei materiali analizzati con una eccellente precisione (nell' ordine delle ppm).