EDS Integrato per SEM / TEM

Strumentazione di Ottica Elettronica

Soluzioni innovative e performanti che si adattano perfettamente alla nostra strumentazione.

EDS "Centurio" 1sr per la mappatura elementare atomica ultrarapida.
Centurio EDS 1sr pour cartographies élémentaires atomique ultrarapideCenturio EDS 1sr pour cartographies élémentaires atomique ultrarapide

Centurio è l' ultima generazione di rivelatore EDS SDD (Silicon Drift Detector) sviluppato da JEOL. Questo dispositivo è capace di raccogliere i fotoni X provenienti dal campione con il più ampio angolo solido attualmente disponibile sul mercato: 1 steradiante.

Grazie ad una raccolta estremamente efficacie di raggi X, Centurio è in grado di gestire un tasso di conteggi senza eguali. In questo modo si accelera l' acquisizione delle mappature e si migliora la sensibilità di rivelazione senza perdere risoluzione in energia. La mappatura elementare in alta risoluzione può essere acquisita in tempi dieci volte inferiori al precedente sistema EDS, con un ottimo rapporto segnale / rumore.
Con una corrente molto elevata ed un piccolo diametro del fascio elettronico, grazie ad un sistema di correzione dell' aberrazione sferica (correttore CS STEM), è ora possibile sfruttando Centurio fare mappature X a risoluzione atomica in tempi molto rapidi.
  • Analisi EDS ad alte prestazioni ed alta stabilità.
  • Le possibilità di mappature elementari a raggi X aumentano in maniera esponenziale per un TEM JEOL 200kV o superiore.
  • Il design di "Centurio" permette di ritrarre e riposizionare il rivelatore in modo automatico e rapidamente per evitare le radiazioni dovute agli elettroni retrodiffusi. Il rivelatore è protetto.
  • Angolo Solido 1s.
 

Applicazioni

Uno studio recente ha dimostrato la rilevazione di fotoni emessi dai singoli atomi di Erbio in EDS. L'analisi EDS dei singoli atomi è notoriamente difficile perché l'emissione foto è notevolmente ridotta per la resa di fluorescenza.
Inoltre, l' efficienza di rivelazione di fotoni a raggi X è compromessa dal piccolo angolo solido della maggior parte dei rivelatori EDS (0.3 sr).
Queste limitazioni sono state superate con l' uso del microscopio elettronico a trasmissione JEOL ARM-200F dotato di correttore CESCOR e del nuovo rivelatore JEOL EDX "Centurio". Le analisi EDS e EELS sono state acquisite simultaneamente nelle stesse condizioni: tensione di accelerazione di 60 kV, dimensione del fascio elettronico di 0,1 nm, tempo di acquisizione di 0,5 s. La preparazione del campione e la parte sperimentale di questo studio sono allo stato dell' arte e aprono nuove prospettive per l' analisi dei metalli nobili, meteoriti, agenti antitumorali, ...

“Detection of photons emitted from single erbium atoms in energy-dispersive X-ray spectroscopy”

Kazu Suenaga, Toshiya Okazaki, Eiji Okunishi, Syo Matsumura Nature Photonics (2012) doi:10.1038/nphoton.2012.148

 http://www.nature.com/nphoton/journal/vaop/ncurrent/full/nphoton.2012.148.html