Focus Ion Beam e Dual Beam

JEOL utilizza la tecnologia FIB sia in forma di un singolo fascio ionico focalizzato, che in forma di un doppio fascio associando una colonna SEM (LaB6 o FEG) con una colonna ionica.

GAMMA STRUMENTI JEOL

Sistemi Focused Ion Beam
Sonde

Il JIB-4000 è un sistema di preparazione campioni
e di osservazione mediante un fascio ionico

focalizzato.

Sistemi Dual Beam
Double colonne

Il cannone ionico è combinato con una sorgente
LaB6 nel JIB-4501, o con una sorgente ad
emissione di campo nel JIB-4601F.