Microscopi Elettronici a Scansione (SEM)

JEOL riveste un ruolo fondamentale nell' evoluzione della microscopia elettronica a scansione fin dai primi anni '60. JEOL offre un supporto applicativo, una formazione ed un' assistenza su misura e senza eguali.

GAMMA STRUMENTI JEOL

SEM da banco con EDS
MEB de table avec EDS

SEM estremamente semplice e compatto,
ingrandimenti fino a x60 000,
modalità Alto Vuoto e Pressione Variabile (SED, BED),
analisi chimica EDS integrata.

SEM Tungsteno o LaB6 Low Vacuum

Ideale per failure analysis, ispezione,
caratterizzazione, imaging e
analisi chimica elementare di campioni
umidi, non conduttivi, non preparati.

SEM FEG
MEB FEG

Ultra alta risoluzione nell' immagine e
nell' analisi chimica su tutti i tipi di
campione.
Disponibile anche in Pressione Variabile.

SEM Atmosferico
MEB Atmosphérique

Il Clairescope è l' unico SEM al mondo
a pressione atmosferica, che permette l' analisi
ottica ed elettronica allo stesso tempo.

SOLUZIONI DEDICATE E JEOL PARTNERS

Sviluppo di molteplici realizzazioni uniche
  • Portacampioni per diverse applicazioni
  • Sistema di navigazione
  • Cellule blindée, protection biologique
  • Chambre environnementale, etc...
Soluzioni proposte in collaborazione con i nostri partners
  • Omniprobe - Litografia assistita mediante gas
  • Protochips - Portacampioni riscaldati per esperimenti a temperatura variabile
  • Gatan - Cryo transfer systems, cathodoluminescence (CL)
  • Kleindiek - Nanomanipolatori