SEM Tungsteno o LaB6

Microscopi Elettronici a Scansione (SEM)

Ideale per: failure analysis, analisi di
caratterizzazione, analisi morfologica
e chimica di campioni voluminosi.

  SEM JSM-IT300 microscopio elettronico a scansione con camera grande

Venendo da una lunga serie di microscopi elettronici a scansione (SEM), che ha avuto inizio nel 1966 con il JSM-U1 il JSM-IT300 è un potente microscopio elettronico a scansione ideale per la rapida caratterizzazione dei materiali. Questo dispositivo è ampiamente utilizzato in tutti i settori della ricerca sia di base che applicata in ambito industriale. Per questa nuova generazione di SEM, JEOL ha intrapreso un notevole programma di sviluppo per implementare le caratteristiche tecniche e le funzionalità del microscopio in modo da poter fornire uno strumento con la migliore risoluzione associato ad una estrema facilità d'uso.

Con una risoluzione di 3.0nm a 30kV e 15nm a 1kV, il JSM-IT300 permette l'osservazione di una vasta gamma di campioni : da quelli polimerici, grazie alle eccellenti performance a basse tensioni (15nm a 1kV), a quelli metallici  passando attraverso campioni geologici e polveri.

Il JSM-IT300 consente osservazioni di routine con ingrandimenti decisamente superiori a quelli di un microscopio ottico e con una grande profondità di campo. Il microscopio elettronico a scansione permette misurazioni dettagliate, compresa l' analisi 3D partendo da immagini stereo. La visualizzazione simultanea di immagini derivanti da elettroni secondari e retrodiffusi permette all' utente di osservare e confrontare specifici dettagli.

Questo SEM è anche uno strumento analitico che può essere equipaggiato con un sistema a dispersione di energia (spettrometro a raggi X, EDS), per l'analisi elementare, nella versione JSM-IT300A. Inoltre può essere implementato con altre tecniche analitiche come uno spettrometro a lunghezza d'onda (WDS), catodoluminescenza, diffrazione di elettroni (EBSD).

L' utilizzo del SEM è molto semplice grazie ad un' interfaccia utente estremamente intuitiva. Il JSM-IT300 è particolarmente adatto ad un utilizzo multi-utente grazie alla possibilità di salvare aree di lavoro e condizioni di utilizzo personalizzate. Un sistema di navigazione a colori, unico nel suo genere, accoppiato all' automazione dello stage permette di individuare facilmente e rapidamente l'area di interesse. Tutte le funzioni essenziali sono automatizzate come ad esempio autofocus, auto astigmatismo, impostazioni del cannone elettronico (saturazione, allineamento), contrasto e luminosità.
Ingrandimenti da x5 a x300,000
Tensione d' accelerazione
a partire da 300V
Risoluzione

 3nm a 30kV;
 8nm a 3kV;
15nm a 1kV;

le risoluzioni sono calcolate come minima separazione identificabile sull'immagine tra due particelle di oro distinte e non mediante calcolo software o per "edge criteria"

Rivelatori Rivelatore di elettroni secondari ad alta risoluzione
Rivelatore di elettroni retrodiffusi di tipo NIP (brevetto JEOL)
Modalità di lavoro
Alto vuoto
Stage Eucentrico a tutte le distanze di lavoro
X=125mm, Y=100mm, Z=5mm-80mm
R=360° (continuo)
Tilt= -10/+90°
Dimensione del campione
fino a 200mm di diametro
Informatica PC con Windows 7, completo di monitor LCD 23' ad alta risoluzione touchscreen, Ipad(TM) Ready
Risoluzione max delle immagini 5120×3840
EDS SDD, senza azoto liquido, integrato (Nella versione "LA")