TEM 200kV

Microscopi Elettronici a Trasmissione (TEM)

Questi TEM a 200keV robusti e facili da utilizzare
sono implementabili con diversi moduli e consentono
di adattarsi a tutte le applicazioni.

JEM-2100Plus LaB6

Il microscopio elettronico JEM-2100Plus offre soluzioni per una vasta gamma di problematiche nei settori delle scienze dei materiali, della nanoelettronica e delle scienze biologiche.

Controllata da un sistema Windows™, il JEM-2100Plus è intuitivo, facile da usare mediante le funzioni di controllo a distanza. L' avanzato sistema di controllo permette l' integrazione di STEM HAADF, EDS e EELS.

Il JEM-2100Plus ha uno stage portacampione ad elevata stabilità, ottimizzato per applicazioni di tomografia. Il software JEOL TEMography consente di acquisire automaticamente una serie di immagini in STEM o in modalità TEM. Il modulo per la  ricostruzione calcola automaticamente la ricostruzione 3-D, il modulo di visualizzazione 3-D permette di visualizzare le immagini su diversi assi. Il controllo su scala nanometrica X / Y piezo completano una configurazione avanzata.

Il JEM-2100Plus ha tre lenti condensatrici indipendenti e produce un fascio elettronico intenso secondo lo spot-size selezionato. Questa funzione migliora le capacità di analisi chimica e in diffrazione. Il sistema brevettato JEOL Alpha Selector consente all' utente la scelta di una varietà di condizioni di illuminazione oltre la modalità fascio convergente a illuminazione parallela. Con la sua seconda lente obiettivo, la microscopia Lorentz è una caratteristica standard di questo microscopio. Un diaframma obiettivo rimovibile ad alto contrasto completa il pezzo polare di questo TEM. Una volta introdotto il diaframma, si ottiene un ottimo contrasto ed è possibile eseguire analisi EDS.
Per completare le funzionalità analitiche del JEM-2100Plus un diaframma di copertura dei raggi X "Hard" è posto appena sopra la lente obiettivo in modo che gli spettri non siano contaminati da picchi spuri.


Ultra Alta
Risoluzione
(UHR)
Alta
Risoluzione
(HR)
Alto
Tilt
(HT)
Cryo
(CR)
Haut
Contrasto
(HC)
Risoluzione

Puntuale
Lattice


0.19nm
0.14 nm


0.23 nm
0.14 nm


0.25 nm
0.14 nm


0.27 nm
0.14 nm


0.31 nm
0.14 nm
Tensione d' accelerazione

Step minimo
80,100,120,160,200 kV, possibilità di scendere sotto 80kV

50 V
Stabilità

Tensione d' acc.
Corrente OL


2×10–6/min
1×10–6/min
Lente Obiettivo
  LunghezzaFocale
Cs
Cc
Step Minimo

1,9mm
0.5 mm
1.1 mm
1.0 nm
2.3 mm
1.0 mm
1.4 mm
1.5 nm
2.7 mm
1.4 mm
1.8 mm
1.8 nm
2.8 mm
2.0 mm
2.1 mm
2.0 nm
3.9 mm
3.3 mm
3.0 mm
5.2 nm
Spot del fascio
Modalità TEM

Modalità EDS
Modalità NBD
Modalità CBD
diametro da 20 a 200 µm
diametro da
1 a 5 µm
da 0.5 a 25 nm
diametro selettore alpha
 da1.0 a 25 nm 
diametro
selettore
alpha
da 1.5 a 35 nm
diametro selettore alpha
2.0 a 45 nm
diametro selettore alpha
diametro da
10 a 500 nm
CB Diffraction
Convergent angle(2-α)
Acceptance angle
da 1.5 a 20 mrad o maggiore
±10°
Ingrandimenti
Modalità Mag

Modalità LOW Mag

Modalità SA Mag
×2000 a 1,500,000 ×1500 a 1,200,000 ×1200 a 1,000,000 ×1000 a 800,000
×50 a 6000 ×50 a 2000
×8000 a 800,000 ×6000 a 600,000 ×5000 a 600,000 ×5000 a 400,000
Lunghezza della Camera SA diff.

HD diff.
  HR diff.*

80 a 2000 mm
100 a 2500 mm 100 a 2500 mm 150 a 3000 mm

4 to 80 m
333 mm
Stage

Movimentazioni
±30° ±35° ±45° ±60°*** ±30°
2 mm (X,Y) 0.2 mm
(Z±0.1 mm)
2 mm (X,Y) 0.4 mm
(Z±0.2 mm)
EDS

Angolo d'Azimut


25°



20 °

*    Richiede la camera di diffrazione ad alta risoluzione da 36mm
**  con il portacampione per tomografia
*** con EDS (opzionale)

note: La configurazione deve essere definita in fase di acquisto.

 
 
rein JEM-2100
Nb2O5 JEM-2100
Carbone JEM-2100
JEM-2100