TEM 300kV

Microscopi Elettronici a Trasmissione (TEM)

Una gamma di FEG TEM a 300 kV,
con o senza correttori di aberrazione.

 
 
 
 
 
JEM-ARM300F 2 Microscopio Elettronico a Trasmissione 300kV FEG con correttori di aberrazione
 
JEM-3100F

GRAND ARM ™ 2 è l'ultima evoluzione del GRAND ARM. Questo nuovo modello è stato sviluppato per offrire nuove possibilità al mondo della ricerca offrendo il microscopio più efficiente nei campi dell'altissima risoluzione e dell'analisi chimica.
 

Numerosi miglioramenti /sviluppi sono stati integrati in questo microscopio, tra cui:

Un nuovo pezzo polare, l'FHP2, che combina un'eccezionale risoluzione spaziale (HRTEM / HRSTEM) con un'analisi a raggi X (EDS) senza eguali sul mercato.
Il nuovo design di FHP2 consente di ottimizzare le condizioni di analisi in altissima risoluzione:

L'analisi EDS può essere eseguita in modalità ad altissima risoluzione. L'angolo solido totale è di 1,4 steradianti (valore più che raddoppiato rispetto all'FHP1)
Il nuovo design dell'FHP2 ha ridotto le aberrazioni cromatiche e sferiche, dando accesso a una risoluzione spaziale e un'analisi EDS molto migliori su una vasta gamma di tensioni di accelerazione. (risoluzione STEM garantita: 53 pm a 300 kV, 96 pm a 80 kV) *
* Quando è integrato il correttore STEM.


Il pezzo polare WGP è progettato per analisi EDS ultra sensibile e per l'implementazione di studi in-situ.
Il WGP è un pezzo polare con gap elevato ottimizzato per ottenere le massime prestazioni analitiche.
Grazie a questo pezzo polare è possibile:

Posizionare i rivelatori EDS SDD il più vicino possibile al campione per migliorare l'angolo solido (angolo solido totalesenza eguali sul mercato) e quindi accedere alle analisi EDS ultra sensibili.
Utilizzare, senza compromessi, speciali portacampioni, dando così accesso a qualsiasi analisi in-situ.

Nuovo correttore di aberrazione sferica JEOL  completo di software di gestione JEOL COSMO ™
GRAND ARM ™ 2 è dotato di nuovi correttori sviluppati interamente da JEOL.
Grazie all'integrazione del nuovo pezzo polare FHP2, il GRAND ARM ™ 2 può raggiungere una risoluzione STEM di 53 pm a 300 kV.
Il software di controllo JEOL COSMO ™ semplifica e velocizza l'utilizzo e l'allineamento dei correttori.

Sorgente ad emissione Colg FEG (CFEG)
GRAND ARM ™ 2 è dotato di serie di un CFEG per ottenere le migliori prestazioni di risoluzione spaziale e risoluzione in energia.

Cold FEG è una sorgente a bassa dispersione di energia che consente di combinare una sonda di piccole dimensioni con una luminosità molto elevata. Questa tripla capacità permette di essere in grado di acquisire simultaneamente un'analisi elementare X ed EELS associata a una scala atomica in tempi record su quattro tipi di rivelatori (EDS, EELS, HAADF, BEI).

Un nuovo design 
Il GRAND ARM ™ 2 ha un involucro protettivo per limitare i disturbi ambientali come variazioni della temperatura ambiente, variazioni del flusso d'aria, rumore acustico, ecc.
Questo dispositivo è sviluppato per funzioni analitiche quali STEM, EDS, EELS, olografia ecc ...