TEM 300kV

Microscopi Elettronici a Trasmissione (TEM)

Una gamma di FEG TEM a 300 kV,
con o senza filtro Omega integrato
e la versione crio per la biologia
con il JEM-3200FSC a elio.

JEM-3100F Microscopio Elettronico a Trasmissione 300kV FEG
JEM-3100FJEM-3100F
Il JEM-3100F è un microscopio elettronico a trasmissione di tipo FEG con una tensione di accelerazione di 300kV . Questo strumento ha la migliore risoluzione disponibile senza correttore di aberrazione: 0,17 nm . Questo TEM è particolarmente efficace per l'analisi dei nanomateriali. Con la nuova interfaccia digitale il JEM-3100F consente di raggiungere risultati eccezionali rapidamente e facilmente.

Con la sua tensione di 300kV il JEM-3100F è in grado di analizzare campioni spessi con notevole risoluzione e velocemente.

Il JEM-3100F è uno strumento indispensabile che copre un ampio spettro di campi d' applicazione: dalla biologia ai semiconduttori passando per il controllo qualità.

La risoluzione migliore a 300kV senza correttore: 0.17 nm, alta brillanza della sorgente Schottky, ideale per il lavoro analitico, nuova movimentazione piezo-elettrica dello stage portacampione, facile da usare.

Questo dispositivo è sviluppato per funzioni analitiche quali STEM, EDS, EELS, olografia ecc ...
Risoluzione TEM
0.17 nm (UHR)
Risoluzione STEM 0.14 nm (UHR/HR)
Limite d' informazione
<0.1nm
Tensione d'accelerazione 100kV a 300 kV
Sorgente ZrO/W (100) Schottky
Brillanza

7x108A/cm2 sr o maggiore

Corrente del fascio
0.5 nA fascio 1nm minimum
Angolo di Convergenza 1.5 – 20 mrad minimum
Ingrandimenti 60 a 1,500,000x
Movimentazione dello stage
XY: 2 mm; Z: 0.2 mm
EDS
SDD con compensazione del drift