TEM con Correttore

Microscopi Elettronici a Trasmissione (TEM)

JEM-ARM200F con correttore d' aberrazione integrato, e sorgente Schottky o Cold FEG

JEM-ARM200F : il TEM 30-200kV con correttore d' aberrazione
JEM-ARM200FJEM-3200FSC

L’ ARM-200F è un Microscopio Elettronico a Trasmissione (TEM) senza compromessi per l' ultra alta risoluzione sia in immagine che per l' analisi.

Per questa terza generazione di strumenti con correttori JEOL ha ridimensionato la colonna, migliorato la stabilità elettrica e l' integrazione del correttore, al fine di renderlo praticamente invisibile all' utilizzatore. L' ARM-200F combina la risoluzione spaziale, la corrente alta o bassa, e risoluzione energetica della sorgente.

L' ARM-200F fornisce la miglior risoluzione garantita in modalità STEM HAADF a 200kV80pm con una sorgente Schottky. La nuova sorgente a catodo freddo JEOL permette di garantire a 0,3 eV, 78pm. Questa sorgente "fredda"  è molto più flessibile di un monocromatore e consente di scendere sotto 0,3 eV con una brillanza regolabile. Questa nuova tecnologia a catodo freddo viene utilizzata immediatamente dopo il flash. Il flash purifica la punta e permette di avere un  fascio elettronico più piccolo e più monocromatico: "Flash and go", veloce ed efficiente.

Nessun altro TEM può risolvere individualmente gli atomi con tanta acutezza e senza distorsioni. L' ARM-200F non ha rivali nell' analizzare chimicamente, atomo per atomo, la composizione di un campione.

 

  • “Flash & Go” Utilizzazione immediata della sorgente a catodo freddo

    L’ ARM200F è equipaggiato con la nuova generazione di catodo freddo che permette di lavorare con la migliore dispersione energetica. Il "Flash & Go" è una nuova tecnologia basata su un nuovo sistema di vuoto (1 x 10-9 Pa) per ottenere una notevole stabilità di emissione.

  • Integrazione del correttore di Cs sulla sonda

    Questa terza generazione di Microscopio elettronico corretto, integra il correttore di Cs STEM nel software e sul pannello di controllo. Con questo TEM è inutile mettere un campione dedicato all' allineamento (costituito da nanoparticelle d' oro su carbone amorfo), e iniziare ad operare via software la correzione per l' allineamento. L' allineamento della correzione è eseguito all' installazione e poi memorizzato in un file che viene controllato ad ogni visita preventiva annuale. La stabilità dell' ARM-200F è notevole e senza eguali. Questo TEM bene si presta ad un utilizzo da parte di diversi utenti.
     
    Detector STEM

     
    Due rivelatori in dark field, con diversi angoli di rilevamento, un rivelatore bright field con i suoi diaframmi, un sistema di rivelazione ABF (Anular Bright Field) per rivelare gli elementi leggeri (Esclusiva JEOL). Possibilità di aggiungere un rivelatore di elettroni retrodiffusi. Un nuovo sistema di acquisizione permette di acquisire fino a quattro segnali differenti in simultanea.
     
  • Passaggio da 30kV a 200kV da TEM a STEM in pochi secondi
     

    L' ARM-200F è uno strumento molto flessibile e ben progettato in tutti i suoi dettagli. Permette di cambiare tecniche e modalità molto rapidamente, senza dover essere specialisti. Il cambiamento dell' alta tensione avviene rapidamente in pochi minuti per raggiungere l' ingrandimento di 10 milioni. Il cambiamento dalla modalità STEM corretto alla modalità TEM avviene con un click. La gestione semplice e i sistemi automatizzati di ultima generazione rendono l' ARM-200F lo strumento di punta nel mondo della microscopia elettronica a trasmissione.

     
  • Integrazione di un correttore Cs obbietivo

    Il secondo correttore è un option.
    L’ ARM200F offre la possibilità di essere equipaggiato con un correttore Cs TEM che consente di ottenere una risoluzione di 0,11nm.
     
    Massima stabilità

    Per questa terza generazione, il diametro della colonna, la dimensione dei pannelli per la schermatura termica, elettromagnetica e acustica sono stati ridisegnati per aumentare la stabilità del microscopio. Questi miglioramenti semplificano l' installazione del microscopio nelle strutture di accoglienza. L' ARM-200F ha una resistenza superiore a due volte quella di una normale TEM.

Risoluzione

Risoluzione STEM HAADF1)

0.08 nm 2)(a 200kV sorgente Schottky) /0,078nm con sorgente cold

Risoluzione in TEM :
Puntuale

Lattice


0.19 nm (a 200kV) 0.11 nm con correttore Cs TEM 3) (a 200kV)

0.10 nm

Ingrandimenti

STEM 200 a 150,000,000x

TEM

50 a 2,000,000x

Sorgente

Schottky / Cold

Tensione d’Accelerazione

80 a 200 kV 4)
Stage
Stage

Eucentrico con movimentazione Piezo-elettrica

Dimensioni del campione
3 mm dia.
Tilt +/-25° con un portacampione doppio tilt e pezzo polare UHR
Movimentazioni X/Y: ±1.0 mm
Correttori Cs
Correttore STEM di Cs Standard
Correttore TEM di Cs Opzionale
Accessori EDS/EELS/CCD camera, etc.

 

1) With HAADF (high-angle annular dark-field) detector
2) Verified using Ge(112) specimen
3) Option
4) Option: 60 kV

Per maggiori informazioni contattateci.

 
work in progress
Pr Ricolleau_CFEG CsTEM_CoPt
graphene
GaAS
SrTiO3
ABF Fe3O4
Dr DEVAUX IJL Laser polarisé_R 0,082nm
Pr Ricolleau CFEG CsTEM Fe2O3